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La termorreflectancia en estado estacionario (SSTR) es una técnica de medición óptica que se utiliza para medir la conductividad térmica o conductancia límite de películas delgadas y recubrimientos que van desde unos pocos nanómetros hasta decenas de micrones.
La aplicación de conceptos tradicionales del estado estacionario en combinación con una configuración de sonda de bomba basada en láser permite medir la conductividad térmica de materiales desde 0.05 W / m / K hasta 2.500 W / m / K. Discutiremos los principios de medición, así como algunos aplicaciones específicas.
El Dr. John Gaskins es cofundador y presidente de Laser Thermal Analysis y científico principal del Departamento de Ingeniería Mecánica y Aeroespacial de la Universidad de Virginia. John ha realizado investigaciones para caracterizar propiedades mecánicas, ópticas y térmicas de los materiales desde 2005. Su trabajo desarrolló metodologías para determinar las propiedades dependientes del tamaño en estructuras de película delgada.
Tags: SSTR-F, termorreflectancia en estado estacionario, fibra óptica, películas de films delagadas , recubrimientos
